Метод і алгоритми аналізу симетричних зображень
У статті розглянуто задачу опису зображень повторюваних елементів при їх класифікації і розпізнаванні. Запропоновано метод на основі застосування груп симетрії, що дозволяє отримати інваріантний до повороту, зсуву та масштабу структурний опис зображень....
Збережено в:
Дата: | 2010 |
---|---|
Автор: | |
Формат: | Стаття |
Мова: | Ukrainian |
Опубліковано: |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
2010
|
Назва видання: | Штучний інтелект |
Теми: | |
Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/58404 |
Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Цитувати: | Метод і алгоритми аналізу симетричних зображень / Г.М. Мельник // Штучний інтелект. — 2010. — № 4. — С. 253-261. — Бібліогр.: 18 назв. — укр. |