Повышение качества и чувствительности анализа низкоконтрастных изображений методом виртуальной оптической эллипсометрии - Ахметшина, Л.Г. (Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2008)
Рассмотрены информационные возможности нового метода повышения качества и чувствительности сегментации низкоконтрастных изображений. Суть метода основана на переходе от амплитудной (яркостной) модуляции к фазовой (угловой) модуляции в комплексной области, что открывает возможность обобщения идеи оптической эллипсометрии на область цифровых методов обработки изображений. Представлены результаты численного моделирования и реальной проверки работоспособности метода.