APA (7th ed.) Citation

Казаков, А., Андриянов, А., Миронов, В., & Поляруш, О. (2003). Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Казаков, А.И, А.В Андриянов, В.С Миронов, and О.В Поляруш. Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.

MLA (8th ed.) Citation

Казаков, А.И, et al. Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.