Стиль цитування APA (7-ме видання)

Казаков, А., Андриянов, А., Миронов, В., & Поляруш, О. (2003). Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Казаков, А.И, А.В Андриянов, В.С Миронов, та О.В Поляруш. Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Казаков, А.И, et al. Расчет частотной зависимости диэлектрических характеристик тонких пленок системы HfO₂—Nd₂O₃. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2003.