Стерхова, А., Ушаков, П., & Жарков, П. (2001). Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Стерхова, А.В, П.А Ушаков, та П.Н Жарков. Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Стерхова, А.В, et al. Методика определения параметров структурной и кластерной моделей толстых резистивных пленок. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2001.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.