Модели анализа неисправностей цифровых систем на основе FPGA, CPLD

Представлена кубическая технология анализа цифровых схем для генерации тестов и оценки их качества. Модели функциональных элементов представлены кубическими покрытиями. Предложена универсальная процедура вычисления выходных списков неисправностей примитивов по их кубическим покрытиям....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2001
Hauptverfasser: Хаханов, В.И., Хак Х.М. Джахирул, Масуд М.Д. Мехеди
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України 2001
Schriftenreihe:Технология и конструирование в электронной аппаратуре
Schlagworte:
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70834
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Модели анализа неисправностей цифровых систем на основе FPGA, CPLD / В.И. Хаханов, Хак Х.М. Джахирул, Масуд М.Д. Мехеди // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 2. — С. 10-17. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:Представлена кубическая технология анализа цифровых схем для генерации тестов и оценки их качества. Модели функциональных элементов представлены кубическими покрытиями. Предложена универсальная процедура вычисления выходных списков неисправностей примитивов по их кубическим покрытиям.