Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники
Предложена методика обработки данных при автоматизированном дефектоскопическом контроле материалов и поверхностей, алгоритмы распознавания текстурно-однородных областей и распознавания объекта на фоне текстуры. При распознавании текстурно-однородных областей проводится сегментация изображения по тек...
Збережено в:
| Дата: | 2000 |
|---|---|
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
2000
|
| Назва видання: | Технология и конструирование в электронной аппаратуре |
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70963 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Обработка данных при автоматизации дефектоскопического контроля материалов электронной техники / В.Н. Крылов, С.Г. Антощук, Г.Ю. Щербакова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2000. — № 5-6. — С. 45-47. — Бібліогр.: 5 назв. — рос. |