Долговременная релаксация в пьезоэлектрической керамике ЦТС, обусловленная дефектами кристаллической решётки нанометрового масштаба - Кузенко, Д.В.; Ищук, В.М.; Бажин, А.И.; Спиридонов, Н.А.; Дорофеева, В.В. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2012)
Представлены результаты изучения долговременной релаксации в пьезоэлектрической керамике Pb(Zr,Ti)O₃ после прекращения возбуждения (электрическим полем, нагревом, механическим сжатием). В процессе старения происходит уменьшение диэлектрической проницаемости по логарифмическому закону. Подобное поведение связывается с релаксацией электрического заряда, выделившегося при частичной деполяризации керамики и локализовавшегося на дефектах решётки нанометрового масштаба.