Анізотропний модель динамічної трикристальної Ляве-дифрактометрії структурної досконалости кристалічних виробів нанотехнологій. І. Когерентна складова динамічної картини розсіяння - Молодкін, В.Б.; Оліховський, С.Й.; Шелудченко, Б.В.; Лень, Є.Г.; Когут, М.Т. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2008)
В рамках динамічної теорії розсіяння Рентґенових променів у недосконалих кристалах розглянуто випадок геометрії дифракції за Ляве без обмежень на розміри дефектів. Одержано аналітичні вирази для когерентних компонент коефіцієнтів проходження і відбиття для кристалів з однорідно розподіленими дефектами ріжних типів. З урахуванням анізотропії полів зміщень атомів кристалу навколо дефектів одержано аналітичні вирази для дисперсійних поправок до хвильових векторів «сильних» Бреґґових хвиль, які виникають внаслідок дифузного розсіяння. Враховано інструментальні фактори трикристального дифрактометра у режимі картографування оберненого простору.