Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива

Досліджено вплив поверхні на електричні параметри щойно вирощених та відпалених у вакуумі і на повітрі плівок халькогенідів олива n- і р-типу провідности. Результати пояснено у рамках двошарового моделю Петріца....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2008
Hauptverfasser: Фреїк, Д.М., Дзундза, Б.С.
Format: Artikel
Sprache:Ukrainian
Veröffentlicht: Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2008
Schriftenreihe:Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Online Zugang:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76194
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива / Д.М. Фреїк, Б.С. Дзундза // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 4. — С. 1111-1117. — Бібліогр.: 5 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
id irk-123456789-76194
record_format dspace
spelling irk-123456789-761942015-10-31T18:46:14Z Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива Фреїк, Д.М. Дзундза, Б.С. Досліджено вплив поверхні на електричні параметри щойно вирощених та відпалених у вакуумі і на повітрі плівок халькогенідів олива n- і р-типу провідности. Результати пояснено у рамках двошарового моделю Петріца. Influence of the surface on electrical parameters of lead chalkogenide films is studied. These fresh-grown films annealed in vacuum and in the air of n- and ptype of conductivity are investigated. Results are explained within the scope of the two-layered Petritz model. Исследовано влияние поверхности на электрические параметры свежевырощенных и отожженных в вакууме и на воздухе пленок халькогенидов свинца n- и р-типа проводимости. Результаты объяснены в рамках двухслойной модели Петрица. 2008 Article Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива / Д.М. Фреїк, Б.С. Дзундза // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 4. — С. 1111-1117. — Бібліогр.: 5 назв. — укр. 1816-5230 PACS numbers: 07.57.-c,72.20.Ee,73.25.+i,73.50.Dn,73.50.Jt,73.61.Jc,81.40.Rs http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76194 uk Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
institution Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection DSpace DC
language Ukrainian
description Досліджено вплив поверхні на електричні параметри щойно вирощених та відпалених у вакуумі і на повітрі плівок халькогенідів олива n- і р-типу провідности. Результати пояснено у рамках двошарового моделю Петріца.
format Article
author Фреїк, Д.М.
Дзундза, Б.С.
spellingShingle Фреїк, Д.М.
Дзундза, Б.С.
Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
author_facet Фреїк, Д.М.
Дзундза, Б.С.
author_sort Фреїк, Д.М.
title Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
title_short Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
title_full Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
title_fullStr Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
title_full_unstemmed Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
title_sort вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива
publisher Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
publishDate 2008
url http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76194
citation_txt Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива / Д.М. Фреїк, Б.С. Дзундза // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2008. — Т. 6, № 4. — С. 1111-1117. — Бібліогр.: 5 назв. — укр.
series Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
work_keys_str_mv AT freíkdm vplivpoverhnínatransportníprocesivtonkihplívkahhalʹkogenídívoliva
AT dzundzabs vplivpoverhnínatransportníprocesivtonkihplívkahhalʹkogenídívoliva
first_indexed 2025-07-06T00:38:14Z
last_indexed 2025-07-06T00:38:14Z
_version_ 1836855902355849216
fulltext 1111 PACS numbers: 07.57.-c, 72.20.Ee, 73.25.+i, 73.50.Dn, 73.50.Jt, 73.61.Jc, 81.40.Rs Вплив поверхні на транспортні процеси в тонких плівках халькогенідів олива Д. М. Фреїк, Б. С. Дзундза Прикарпатський національний університет імені Василя Стефаника, вул. Шевченка, 57, 76000 Івано-Франківськ, Україна Досліджено вплив поверхні на електричні параметри щойно вирощених та відпалених у вакуумі і на повітрі плівок халькогенідів олива n- і р-типу провідности. Результати пояснено у рамках двошарового моделю Петріца. Influence of the surface on electrical parameters of lead chalkogenide films is studied. These fresh-grown films annealed in vacuum and in the air of n- and p- type of conductivity are investigated. Results are explained within the scope of the two-layered Petritz model. Исследовано влияние поверхности на электрические параметры свежевы- рощенных и отожженных в вакууме и на воздухе пленок халькогенидов свинца n- и р-типа проводимости. Результаты объяснены в рамках двух- слойной модели Петрица. Ключові слова: халькогеніди олива, тонкі плівки, епітаксія, неодноріднос- ті, модель Петріца. (Отримано 23 листопада 2007 р.) 1. ВСТУП Тонкі плівки халькогенідів олива – перспективні матеріяли для створення детекторів та джерел випромінення в інфрачервоному діяпазоні оптичного спектру. Явища переносу у тонких напівпровідникових плівках суттєво відрізняються від монокристалів у зв’язку із впливом поверхневих ефектів: міжфазних меж («плівка—вільна поверхня», «плівка—під- ложжя») та дефектів росту (міжзернові межі, дислокації невідпові- дностей). При цьому, якщо наявність міжзернових меж еквівален- Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Nanosystems, Nanomaterials, Nanotechnologies 2008, т. 6, № 4, сс. 1111—1117 © 2008 ІМФ (Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України) Надруковано в Україні. Фотокопіювання дозволено тільки відповідно до ліцензії 1112 Д. М. ФРЕЇК, Б. С. ДЗУНДЗА тна у електричних властивостях послідовному з’єднанню, то між- фазні межі аналогічні до паралельного з’єднання приповерхневих областей і об’єму. У даній роботі у рамках моделю Петріца досліджено внесок пове- рхні в ефективні значення коефіцієнтів переносу для тонких плівок халькогенідів олива різного типу провідности. 2. МЕТОДИКА ЕКСПЕРИМЕНТУ Досліджували епітаксійні плівки PbTe, PbSe, PbS n- i p-типу з кон- центрацією носіїв заряду (1017—1020) см −3 які вирощували осаджен- ням парової фази у вакуумі методою гарячої стінки на підкладках із кристалів фтористого барію орієнтації (111) [2, 3]. Вирощування плівок здійснювали при постійній температурі підкладок і швидко- сті конденсації, а також сталій для кожного технологічного проце- су інтенсивности випаровування джерела халькогену. Якість плі- вок оцінювали методою Рентґенової дифрактометрії, топографії та Голлових мірянь. Товщину плівок задавали часом осадження пари, пошарове щавлення плівок здійснювали хемічними методами. Зразки для міряння Голлового ефекту і електропровідности мали чотири Голлових і два струмових зонди. Міряння проводили на про- стому струмі у постійному магнетному полі. Виключення впливу побічних ґальвано- і термомагнетних ефектів при цьому забезпечу- вали усередненням результатів мірянь при різних напрямках стру- му і магнетного поля. Струм, який протікав через зразок складав ∼ 1 мА, а магнетне поле 2,0 Тл. Похибка мірянь не перевищувала 5%. Відпал плівок здійснювали у вакуумі 6,5⋅10−4 Па при температу- рах То = 550—700 К. Міряння після кожного циклу відпалу прово- дили на повітрі при кімнатній температурі. Поведінку ефективних значень питомої електропровідности (σ) і Голлового коефіцієнта (RH) у плівках, можна пояснити наявністю поверхневих шарів. Аналізу електричних властивостей плівок при цьому доцільно виконувати за допомогою двошарового моделю Пе- тріца [1], у якому тонку плівку представляють складеною з двох шарів: поверхневого (s) (область поверхневого заряду) завтовшки ds, концентрація носіїв струму в якому ns, а їх рухливість μs, і об’ємного (b), що характеризується аналогічними величинами db, nb, μb які з’єднані паралельно (рис. 1). Товщина плівки = +s bd d d . Ефективний Голлів коефіцієнт (RH) і питому електропровідність у цьому випадку можна виразити через питомі провідності і Голлів коефіцієнт поверхневого (σs, Rs) і об’ємного шарів (σb, Rb): ( ) σ + σ = σ + σ 2 2 2 s s s b b b H s s b b R d R d R d d d , (1) ПОВЕРХНЯ І ТРАНСПОРТНІ ПРОЦЕСИ В ПЛІВКАХ ХАЛЬКОГЕНІДІВ Pb 1113 σ + σ σ = s s b bd d d . (2) Ця конфіґурація є доцільною з експериментальної точки зору за рахунок простоти реалізації, малого впливу контактів, низьких шумів. 3. РЕЗУЛЬТАТИ ДОСЛІДЖЕННЯ ТА ЇХ АНАЛІЗА Важливими технологічними факторами, що визначають структур- ні характеристики плівок та їх електричні параметри є температура осадження (Тп) та парціяльний тиск пари халькогену ( 2XP ) у зоні осадження, як більш леткої компоненти. Ці чинники в основному формують відхилення від стехіометричного складу в області існу- вання сполук і, таким чином, рівноважний стан точкових дефектів, які і визначають тип провідности та величину концентрації носіїв струму [4]. Досліджено залежності питомої електропровідности σ, Голлової сталої RН, концентрації nH і рухливости носіїв від товщини осадже- них плівок. Результати проведених експериментальних досліджень наведено на рис. 2—4 відповідно для щойно вирощених, відпалених у вакуумі та витриманих в атмосфері кисню. Видно, що у плівках має місце розмірний ефект для досліджуваних електричних пара- метрів. Так, зокрема, із зменшенням товщини d щойно вирощених та витриманих в атмосфері кисню плівок питома електропровід- ність зростає. При цьому щойно вирощені плівки n-типу при тов- щинах, менших за d ∼ 1 мкм мають область із дірковою провідністю (рис. 2, а, крива 4). Результати розрахунків кінетичних параметрів плівок у рамках двошарового моделю Петріца наведено у таблиці. Видно, що харак- терною особливістю для щойно вирощених плівок із ефективною електронною провідністю є наявність шарів р-типу із збагаченою концентрацією дірок (табл.). При цьому для плівок із ефективною дірковою провідністю приповерхневі шари плівок характеризують- ся підвищеною концентрацією основних носіїв, які переважають об’ємну більш ніж на порядок величини (табл.). Рис. 1. Двошаровий модель Петріца і його електрична схема. Струми і Гол- лові напруги є паралельними [1]. 1114 Д. М. ФРЕЇК, Б. С. ДЗУНДЗА Зазначені ефекти пов’язані із інтенсивним збагаченням пари на халькогени, як більш леткі компоненти у сполуках на початкових етапах випаровування наважки. Це і обумовлює формування кон- денсату в області гомогенности на межі збагаченій на халькоген, який відповідальний за акцепторну дію. Встановлено, що відпал у вакуумі плівок n-типу призводить до незначного збільшення концентрації електронів (рис. 3, а, крива 4). Деяке зростання Голлової рухливости носіїв струму на початкових етапах відпалу (рис. 3, а, крива 3) обумовлене покращенням струк- тури епітаксійних плівок. Це і є причиною збільшення питомої електропровідности (σ) з часом відпалу. Цілком інакше поводяться плівки р-типу (рис. 3, б). Концентра- ція і рухливість дірок у цьому випадку значно змінюються. Спосте- рігається ефект конверсії типу провідности (рис. 3, б, криві 2, 4). Як видно (рис. 3, б, крива 4), у процесі відпалу концентрація швидко зростає, прямуючи до нескінченности, а потім також швидко зме- ншується. У точці розриву відбувається конверсія типу провідности (знаку Голлового коефіцієнта (рис. 3, б, криві 2, 4)), а Голлова рух- ливість обертається в нуль (рис. 3, б, крива 3). Залежності, які спо- стерігаються специфічні для структур, що складаються з двох про- шарків протилежного типу провідности. Слід зауважити, що хара- ктер кінетичних кривих суттєво залежить від температури відпалу. а б Рис. 2. Залежність питомої електропровідности (σ – 1), Голлової сталої (RH – 2), рухливости (μ – 3) та концентрації (n – 4) від товщини (d) для щойно вирощених плівок n-PbТe (а) і p-PbТe (б). ПОВЕРХНЯ І ТРАНСПОРТНІ ПРОЦЕСИ В ПЛІВКАХ ХАЛЬКОГЕНІДІВ Pb 1115 Підвищення температури відпалу, як правило, призводить до зме- ншення часу, протягом якого плівки із ефективного р-типу стають ефективно електронними. Можливість формування n—p-структури в процесі вакуумного від- палу прямо випливає з фазової P—Т—х-дiяграми рівноваги для халь- когенідів олива при прямуванні парціяльного тиску халькогеніду до нуля. Фізичною причиною її утворення є збіднення приповерхневого прошарку плівок халькогеном, вакансії якого в кристалічній ґрат- а б Рис. 3. Залежність питомої електропровідности (σ – 1), Голлової сталої (RH – 2), рухливости (μ – 3) та концентрації (n – 4) від товщини (d) для плівок n-PbTe (а) і p-PbTe (б), відданих вакуумному відпалу при 640 К на протязі 2,5 год. Рис. 4. Залежність питомої електропровідности (σ – 1), Голлової сталої (RH – 2), рухливости (μ – 3) та концентрації (n – 4) від товщини (d) для плівок n-PbTe, витриманих в атмосфері кисню. 1116 Д. М. ФРЕЇК, Б. С. ДЗУНДЗА ниці є електричноактивними донорами і ґенерують електрони. Та- ким чином, із підвищенням температури та збільшенням часу відпа- лу, поверхня плівки стає все більше збагачена на вакансії халькогену і концентрацію електронів. Це і обумовлює початкову компенсацію діркової провідности матеріялу, а в подальшому конверсію типу провідности з р- на n-тип і зростання концентрації електронів. Взаємодія із киснем може призводити до істотного перерозподілу як елементного складу матеріялу, так і цілого комплексу нових фізи- ко-хемічних властивостей матеріялу. Профіль розподілу електрич- них параметрів плівок відданих відпалу в кисні, подано на рис. 4 Специфічний характер зміни концентрації і рухливости носіїв заряду свідчить про утворення в процесі взаємодії з киснем двошарової р—n- структури у плівках із початковою електронною провідністю (рис. 4, крива 4). Для плівок p-PbTe має місце тільки деяке зростання конце- нтрації основних носіїв як на поверхні, так і в об’ємі плівок (табл.). Передумовою цього є те, що плівки PbTe активно взаємодіють із киснем який є ефективним акцептором. Міґруючи по межах зерен, він проникає у глибину плівки, компенсуючи донорні центри. Вна- слідок цього на поверхні плівок утворюється достатньо товстий шар p-типу провідности (рис. 4, крива 4; табл.). 4. ВИСНОВКИ 1. У рамках двошарового моделю Петріца визначено значення еле- ТАБЛИЦЯ. Значення кінетичних параметрів приповерхневого шару (s) і об’єму (b) для плівок PbTe, PbSe і PbS n- і р-типу провідности, розрахова- них згідно двошарового моделю Петріца. Плівки Щойно вирощені Відпалені у вакуумі Витримані у атмосфері кисню Параметри PbTe-n PbTe-p PbTe-n PbTe-p PbТe-n PbS-n σs, Ом −1⋅см−1 120 800 40 38 180 10 Rs, см 3⋅Кл−1 8 0,3 −5 −15 5 4 ns, см −3 7,8⋅1017 (р) 2,1⋅1019 1,6⋅1018 4,2 1017 (n) 1,6⋅1018 (р) 1,5⋅1018 (р) σs, см 2⋅В−1⋅с−1 960 240 200 570 900 40 ds, мкм 0,1 0,08 0,5 0,2 0,6 0,3 σb, Ом −1⋅см−1 70 140 76 140 40 28 Rb, см 3⋅Кл−1 −20 2,8 −24 3 −18 −50 nb, см −3 3,1⋅1017 (n) 2,2⋅1018 2,6⋅1017 2,1⋅1018 (р) 3,5⋅1017 (n)1,3⋅1017 (n) σb, см 2⋅В−1⋅с−1 1400 392 1824 420 720 1400 ПОВЕРХНЯ І ТРАНСПОРТНІ ПРОЦЕСИ В ПЛІВКАХ ХАЛЬКОГЕНІДІВ Pb 1117 ктричних параметрів поверхневих шарів на міжфазних межах і об’ємі плівок. 2. Встановлено, що міжфазні межі щойно вирощених плівок біля підкладок завжди збагачені на халькоген, що обумовлює їх р-тип для електронного матеріялу і збагаченого на дірки для р-типу. 3. Відпал у вакуумі плівок n-PbTe обумовлює деяке зростання кон- центрації електронів. Для плівок p-PbTe, біля вільної поверхні при цьому формується двошарова p—n-структура, що пов’язано із випа- ровуванням халькогену і дифузією його вакансій у напрямку нор- малі до поверхні в об’єм плівки. 6. При витримці плівок із початковою електронною провідністю в атмосфері кисню утворюється двошарова структура із приповерх- невим шаром р-типу. Для конденсату р-типу формується збагачена на дірки приповерхнева область за рахунок адсорбції кисню який є активним акцептором. Роботу частково профінансовано МОН України (державний ре- єстраційний номер 0106U00220) та ДФФД МОН України (держа- вний реєстраційний номер 0107U006769). ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА 1. R. L. Petritz, Phys. Rev., 110, No. 6: 1254 (1958). 2. Д. М. Фреик, М. А. Галущак, Л. Й. Межиловская, Физика и технология тонких пленок (Львов: Вища школа: 1988). 3. А. Г. Миколайчук, Д. М. Фреик, В. М. Шперун, Физико-технологические основы синтеза полупроводниковых пленок: Учебное пособие для физиче- ских специальностей (Львов: Вища школа: 1978). 4. Ю. Н. Равич, Б. А. Ефимова, Н. А. Смирнова, Методы исследования полу- проводников в применении к халькогенидам свинца PbTe, PbSe, PbS (Mосква: Наука: 1968). 5. Н. Х. Абрикосов, Л. Е. Шелимова, Полупроводниковые материалы на осно- ве соединений А IVBVI (Mосква: Наука: 1975).