Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅

Методою високотемпературної рентґеноструктурної аналізи досліджено кінетику кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅. Встановлено, що ізотермічний відпал при 453 К призводить до виділення з аморфної фази нанокристалів Al, розмір яких змінюється від 6 до 14 нм. Аналізу кінетики ізотермічної криста...

Повний опис

Збережено в:

Бібліографічні деталі
Дата:	2009
Автори:	Мудрий, С.І., Кулик, Ю.О.
Формат:	Стаття
Мова:	Ukrainian
Опубліковано:	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України 2009
Назва видання:	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
Онлайн доступ:	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76822
Теги:	Додати тег Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
Назва журналу:	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Цитувати:	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅ / С.І. Мудрий, Ю.О. Кулик // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 4. — С. 1227-1236. — Бібліогр.: 12 назв. — укр.

Репозитарії

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine

id	irk-123456789-76822
record_format	dspace
spelling	irk-123456789-768222015-02-13T03:02:07Z Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅ Мудрий, С.І. Кулик, Ю.О. Методою високотемпературної рентґеноструктурної аналізи досліджено кінетику кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅. Встановлено, що ізотермічний відпал при 453 К призводить до виділення з аморфної фази нанокристалів Al, розмір яких змінюється від 6 до 14 нм. Аналізу кінетики ізотермічної кристалізації виконано на основі рівнання Джонсона—Мела— Аврамі. Запропоновано методу часової аналізи інтенсивностей дифракційних максимумів для визначення кінетики фазових перетворень при неперервному лінійному нагріванні аморфних стопів. The crystallization kinetics of amorphous Al₈₇Ni₈Y₅ alloy is studied by X-ray high-temperature diffraction method. As shown, the Al nanocrystals with sizes changing from 6 to 14 nm precipitate from amorphous phase during isothermal annealing at 453 K. Analysis of isothermal crystallization kinetics is performed using the Johnson—Mehl—Avrami equation. The method of diffraction-peak time-dependence analysis is proposed to determine the kinetics of phase transformation during continuous linear heating of amorphous alloys. Методом высокотемпературного рентгеноструктурного анализа исследована кинетика кристаллизации аморфного сплава Al₈₇Ni₈Y₅. Установлено, что изотермический отжиг при 453 К приводит к выделению из аморфной фазы нанокристаллов Al, размер которых изменяется от 6 до 14 нм. Анализ кинетики изотермической кристаллизации проведен с использованием уравнения Джонсона—Мэла—Аврами. Предложен метод временного анализа интенсивностей дифракционных максимумов для определения кинетики фазовых превращений при непрерывном линейном нагреве аморфных сплавов. 2009 Article Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅ / С.І. Мудрий, Ю.О. Кулик // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 4. — С. 1227-1236. — Бібліогр.: 12 назв. — укр. 1816-5230 PACS numbers: 61.05.cp,61.43.-j,61.46.Hk,81.07.Bc,81.16.Rf,81.30.Fb,82.60.Qr http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76822 uk Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
institution	Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
collection	DSpace DC
language	Ukrainian
description	Методою високотемпературної рентґеноструктурної аналізи досліджено кінетику кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅. Встановлено, що ізотермічний відпал при 453 К призводить до виділення з аморфної фази нанокристалів Al, розмір яких змінюється від 6 до 14 нм. Аналізу кінетики ізотермічної кристалізації виконано на основі рівнання Джонсона—Мела— Аврамі. Запропоновано методу часової аналізи інтенсивностей дифракційних максимумів для визначення кінетики фазових перетворень при неперервному лінійному нагріванні аморфних стопів.
format	Article
author	Мудрий, С.І. Кулик, Ю.О.
spellingShingle	Мудрий, С.І. Кулик, Ю.О. Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅ Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
author_facet	Мудрий, С.І. Кулик, Ю.О.
author_sort	Мудрий, С.І.
title	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅
title_short	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅
title_full	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅
title_fullStr	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅
title_full_unstemmed	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅
title_sort	дослідження кінетики росту нанокристалів al при кристалізації аморфного стопу al₈₇ni₈y₅
publisher	Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
publishDate	2009
url	http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/76822
citation_txt	Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅ / С.І. Мудрий, Ю.О. Кулик // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2009. — Т. 7, № 4. — С. 1227-1236. — Бібліогр.: 12 назв. — укр.
series	Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
work_keys_str_mv	AT mudrijsí doslídžennâkínetikirostunanokristalívalprikristalízacííamorfnogostopual87ni8y5 AT kulikûo doslídžennâkínetikirostunanokristalívalprikristalízacííamorfnogostopual87ni8y5
first_indexed	2025-07-06T01:09:58Z
last_indexed	2025-07-06T01:09:58Z
_version_	1836857896991719424
fulltext	1227 PACS numbers: 61.05.cp, 61.43.-j, 61.46.Hk, 81.07.Bc, 81.16.Rf, 81.30.Fb, 82.60.Qr Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al87Ni8Y5 С. І. Мудрий, Ю. О. Кулик Львівський національний університет імені Івана Франка, вул. Кирила і Мефодія, 8, 79000 Львів, Україна Методою високотемпературної рентґеноструктурної аналізи досліджено кінетику кристалізації аморфного стопу Al87Ni8Y5. Встановлено, що ізо- термічний відпал при 453 К призводить до виділення з аморфної фази на- нокристалів Al, розмір яких змінюється від 6 до 14 нм. Аналізу кінетики ізотермічної кристалізації виконано на основі рівнання Джонсона—Мела— Аврамі. Запропоновано методу часової аналізи інтенсивностей дифрак- ційних максимумів для визначення кінетики фазових перетворень при неперервному лінійному нагріванні аморфних стопів. The crystallization kinetics of amorphous Al87Ni8Y5 alloy is studied by X-ray high-temperature diffraction method. As shown, the Al nanocrystals with sizes changing from 6 to 14 nm precipitate from amorphous phase during iso- thermal annealing at 453 K. Analysis of isothermal crystallization kinetics is performed using the Johnson—Mehl—Avrami equation. The method of diffrac- tion-peak time-dependence analysis is proposed to determine the kinetics of phase transformation during continuous linear heating of amorphous alloys. Методом высокотемпературного рентгеноструктурного анализа исследо- вана кинетика кристаллизации аморфного сплава Al87Ni8Y5. Установле- но, что изотермический отжиг при 453 К приводит к выделению из амор- фной фазы нанокристаллов Al, размер которых изменяется от 6 до 14 нм. Анализ кинетики изотермической кристаллизации проведен с использо- ванием уравнения Джонсона—Мэла—Аврами. Предложен метод временно- го анализа интенсивностей дифракционных максимумов для определения кинетики фазовых превращений при непрерывном линейном нагреве аморфных сплавов. Ключові слова: аморфний стоп, нанокристалізація, кінетика фазових пе- ретворень. (Отримано 3 грудня 2007 р.) Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології Nanosystems, Nanomaterials, Nanotechnologies 2009, т. 7, № 4, сс. 1227—1236 © 2009 ІМФ (Інститут металофізики ім. Г. В. Курдюмова НАН України) Надруковано в Україні. Фотокопіювання дозволено тільки відповідно до ліцензії 1228 С. І. МУДРИЙ, Ю. О. КУЛИК 1. ВСТУП Легкі нанокристалічні стопи на основі Al, вперше одержані шля- хом часткової кристалізації з аморфної фази [1, 2], знаходять дедалі ширше промислове застосування. Зокрема, серед металевих стопів вони мають рекордні міцнісні характеристики. Вивчення механіч- них властивостей нанокристалічних стопів Al—ПМ—РМ (ПМ – пе- рехідний метал, РМ – рідкісноземельний метал) показало, що гра- ниця міцности може досягати значень до 1,6 ГПа [3]. Саме з цих причин дослідження механізмів зародження та росту нанокриста- лів в аморфній матриці має важливе фундаментальне і практичне значення. В даній роботі проаналізовано кінетику кристалізації аморфного стопу Al87Ni8Y5 методою високотемпературної Рентґено- вої дифрактометрії, що дає змогу прослідкувати за кінетикою фазо- вих перетворень безпосередньо при нагріванні. 2. МЕТОДИКА ЕКСПЕРИМЕНТУ Дослідження кінетики кристалізації аморфного стопу в ізотерміч- них умовах виконувалось на автоматизованому Рентґеновому диф- рактометрі ДРОН-3, оснащеному високотемпературною камерою УВД-2000 в CuKα-випроміненні (λ = 0,1542 нм). Запис кривих інте- нсивности виконувався в дискретному режимі (Δ2θ = 0,05°) через однакові проміжки часу витримки зразка. Методу високотемпературної рентґенографії було використано та- кож при аналізі кінетики неізотермічної кристалізації. Досліджува- ний зразок аморфного стопу встановлювався у високотемпературній камері УВД-2000 Рентґенового дифрактометра. Детектор Рентґено- вого випромінення встановлювався в кутове положення, що відпові- дає дифракційному відбиттю найінтенсивнішої лінії (111)Al (d = = 0,234 нм, 2θ = 38,45°). Для забезпечення режиму лінійного нагрі- вання зразка використовувався високоточний програмований реґу- лятор температури РИФ-101. Швидкість нагрівання в температур- ному інтервалі 293—673 К становила 0,08 К/с. Імпульси з виходу дискримінатора електронно-обчислювального пристрою УМВУ-2М надходили на вхід аналогово-цифрового перетворювача і записува- лись в пам’ять комп’ютера. Таким чином, можна одержати темпера- турно-часові залежності дифракційних максимумів, та за їх зміною прослідкувати кінетику фазового перетворення. 3. РЕЗУЛЬТАТИ ТА ЇХ ОБГОВОРЕННЯ На рисунку 1 наведено криві інтенсивности розсіяння Рентґенових променів, одержані при відпалі зразків у камері дифрактометра КІНЕТИКА РОСТУ НАНОКРИСТАЛІВ Al ПРИ КРИСТАЛІЗАЦІЇ СТОПУ Al87Ni8Y5 1229 протягом різного часу при 453 К. Як видно, суттєві зміни в дифрак- ційній картині спостерігаються вже при тривалості відпалу 1,0 год. На фоні дифузного максимуму виділяються рефлекси (111) та (200) нанокристалічної фази на основі Al. Збільшення тривалости відпа- лу призводить до зростання інтенсивности та зменшення напівши- рин дифракційних максимумів. Для детальнішої аналізи кінетики ізотермічного перетворення була одержана часова залежність об’ємної частки кристалічної фази X(t). Для визначення X(t) нами була використана метода інтеґральної аналізи кривих інтенсивнос- ти розсіяння. Дифракційні криві, одержані в інтервалі значень хви- льового вектора 12,5—37,5 нм, розкладали на складові, що відпові- дають аморфній та кристалічним фазам. Об’ємну частку кристаліч- ної фази розраховували за формулою: ( )( ) c c a I X t I I = + , де Ic, Ia – інтеґральні інтенсивності розсіяння кристалічною та аморфною фазами. Результати розрахунку наведені на рис. 3, а показують, що най- більш суттєва зміна X(t) має місце на початкових стадіях криста- лізації, тоді як при відпалі тривалістю 3,5—6 год. вона практично не змінюється. Для аналізи фазових перетворень в аморфних стопах використову- ють рівнання ізотермічної кристалізації Джонсона—Мела—Аврамі: а б Рис. 1. Дифрактограми аморфно-кристалічного стопу Al87Ni8Y5 після ізо- термічної витримки при 453К. 1230 С. І. МУДРИЙ, Ю. О. КУЛИК ( )( ) 1 nKtX t e−= − , де n – кінетичний коефіцієнт. Значення показника n вказує на характер перетворення. Для ви- значення n перебудовуємо X(t) в подвійних логаритмічних коорди- натах: 0ln( ln(1 )) ln ln( ),X K n t t− − = + − де t0 – інкубаційний період кристалізації. Таким чином, n можна ви- значити з нахилу одержаних прямолінійних залежностей (рис. 3, б). Результати розрахунку показали, що значення кінетичного кое- фіцієнта дорівнює n = 0,6. З іншого боку відомо [4], що при первин- ній кристалізації показник n = 2,5. Одержаний нами результати вказує на дифузійно-контрольований механізм росту нанокриста- лів Al в процесі ізотермічної кристалізації аморфного стопу Al87Ni8Y5 при 453 К. Профілі дифракційних максимумів (111)Al та (200)Al викорис- товували для розрахунку середнього розміру нанокристалів Al за допомогою формули Селякова—Шеррера. В процесах дифузійно- контрольованого росту, середній розмір зерна залежить від часу згідно параболічного закону [5]: ( )L t Dt= λ (λ – параметер, що залежить від хемічного складу нанокристалу, а б Рис. 2. Часова залежність об’ємної частки первинної фази (а), перебудо- вана в координатах Аврамі (б). КІНЕТИКА РОСТУ НАНОКРИСТАЛІВ Al ПРИ КРИСТАЛІЗАЦІЇ СТОПУ Al87Ni8Y5 1231 міжфазної межі та аморфної матриці; D – коефіцієнт дифузії). З наведених на рис. 3, б залежностей розміру нанозерен від часу в координатах L—√t видно, що вони задовільно описуються лінійною функцією. Одержані результати дають змогу оцінити значення ко- ефіцієнта дифузії на міжфазній межі. В результаті виконаних роз- рахунків встановлено, що D = 0,3⋅10−20 м 2/c. Таке аномально низьке значення коефіцієнта дифузії дозволяє стверджувати, що процес нанокристалізації аморфного стопу Al87Ni8Y5 обмежується дифузі- єю атомів Y з міжфазної межі. Проведені нами рентґеноструктурні дослідження прямо підтверджують літературні дані [6]. Як видно з профільної аналізи дифракційних кривих поряд з максимумами (111)Al та (200)Al (рис. 4) спостерігаються дифузні максимуми від двох аморфних фаз з різним хемічним складом та типом близького упорядкування. Дифузний максимум льокалізований при s = 25,5 нм−1 суттєво зміщений відносно положення максимуму(111)Al в бік менших значень s. Середня міжатомова віддаль, оцінена за форму- лою r = 7,73/s, становить 0,303 нм. Враховуючи, що атомовий дія- метер Y (0,360 нм) більший ніж Al (0,286 нм) та Ni (0,250 нм), при- чиною появи дифузного максимуму можна вважати розсіяння на розупорядкованих мікрообластях, збагачених атомами Y. На рисунку 5 наведена залежність інтенсивности дифракційного максимуму (111)Al при неперервному нагріванні. На одержаній кривій можна виділити ряд характерних ділянок. Так на ділянці 1, що відповідає температурному інтервалу 293—503 К, інтенсивність розсіяння практично не залежить від температури. Ця ділянка від- повідає області термічної стабільности аморфного стопу при швид- а б Рис. 3. Часові залежності середнього розміру нанозерен Al при ізотермі- чному відпалі. 1232 С. І. МУДРИЙ, Ю. О. КУЛИК кості нагрівання 0,08 К/с. В іншому температурному інтервалі 503—597 К (ділянка 2) спостерігається неперервне зростання інтен- сивности розсіяння, що зумовлене виділенням з аморфної фази пе- рвинних нанокристалів фази на основі Al. Зміна інтенсивности ди- фракційного максимуму максимальна на початковій стадії і стає меншою при завершенні перетворення на стадії встановлення мета- стабільної рівноваги між первинними нанокристалами та залишко- вою аморфною фазою. При збільшенні температури нагрівання в стопі спостерігаються два структурні перетворення (ділянки 3 та 4), вказують Різкі зміни на температурній залежності інтенсивности максимуму (111)Al при нагріванні до вищих температур (ділянки 3 та 4 кривої I(T)) двох структурно-фазових перетворень, пов’язаних з розпадом залишко- вої аморфної фази. Помітне збільшення інтенсивности та порівняно вузький температурний інтервал (598—618 К) на ділянці 3 є харак- терним для евтектичного типу перетворення. Виконані нами рані- ше в роботі [7] структурні дослідження показали, що на завершаль- них стадіях розпаду аморфного стопу Al87Ni8Y5 спостерігається фо- рмування інтерметалічних фаз Al3Ni та Al23Ni6Y4, що узгоджується з результатами досліджень діяграми фазової рівноваги потрійної системи Al—Ni—Y [8]. Можна припустити, що при Tx2 = 598 К з амо- рфного стопу виділяється евтектична суміш кристалів Al та інтер- металічної фази Al3Ni. Як видно з рисунку 5, при нагріванні стопу до 629 К інтенсив- ність дифракційного максимуму (111)Al суттєво зростає, що вказує на збільшення об’ємної частки фази на основі Al. Виконані високо- Рис. 4. Крива інтенсивности розсіяння стопу Al87Ni8Y5, відпаленого при 453 К протягом 6 год. КІНЕТИКА РОСТУ НАНОКРИСТАЛІВ Al ПРИ КРИСТАЛІЗАЦІЇ СТОПУ Al87Ni8Y5 1233 температурні структурні дослідження показали [7], що при нагрі- ванні стопу до 643 К на дифрактограмах спостерігається різке збі- льшення інтеґральної інтенсивности та зменшення напівширини максимумів Al. Крім того, спостерігається кінцевий розпад аморфної матриці, на що вказує поява на дифрактограмах серії інтенсивних максимумів, які відповідають кристалічній фазі. Порівняння дифрактограм від кристалічної фази з теоретично розрахованими на основі даних робіт [8—10] показує, що на останній стадії кристалізації поряд з фазою на основі Al виділяється хемічна сполука Al23Ni6Y4 (моноклинна синго- нія, просторова група C2/m, параметри елементарної комірки a = 1,5836 нм, b = 0,40681 нм, c = 1,8311 нм, β = 112,97°). Кооперати- вний ріст обох структурних складових дозволяє стверджувати, що при 629 К залишкова аморфна фаза розпадається згідно евтектичної реакції. Таким чином, зміну фазового складу аморфного стопу Al87Ni8Y5 можна описати наcтупною послідовністю реакцій: 1АФ АФ Al→ + , 1 2 3АФ АФ (Al Al Ni)E→ + + , 2 23 6 4АФ (Al Al Ni Y )Е→ + (АФ – вихідна аморфна фаза, АФ1, АФ2 – залишкові аморфні фа- зи). Температурна залежність інтенсивности I(T) дозволяє визначити об’ємний вміст фази на основі Al та прослідкувати за кінетикою фа- Рис. 5. Температурна залежність інтенсивности дифракційного максиму- му (111)Al при неперервному нагріванні аморфного стопу Al87Ni8Y5 (• – експериментальні точки; – згладжена крива). 1234 С. І. МУДРИЙ, Ю. О. КУЛИК зових перетворень. Для розрахунку залежности об’ємної частки кристалічної фази X(T) використано методу, запропоновану в робо- ті [11]. Інтенсивність розсіяння аморфно-кристалічної суміші фаз можна представити адитивною сумою інтенсивностей розсіяння від аморфної та кристалічної фаз: ( )( ) ( ) 1 ( )c aI T X T I X T I= + − (Ic – інтенсивність максимуму (111)Al повністю закристалізова- ного зразка; Ia – інтенсивність розсіяння аморфною фазою). З цього співвідношення одержуємо: ( ) ( ) .a c a I T I X T I I −= − На рисунку 6, а наведено температурну залежність об’ємної част- ки X(T) при неперервному нагріванні. В процесі первинної кристалі- зації об’ємний вміст фази на основі Al збільшується на 50,3%. В ев- тектичних реакціях (2) та (3) зміна об’ємного вмісту (Al) становить відповідно 15,6% та 34,1%. Для аналізи кінетики перетворення до- сліджено температурні зміни швидкости кристалізації dX/dT (рис. 6, б). На одержаній кривій спостерігається ряд характерних макси- мумів. В процесі первинної кристалізації (1) максимальна швидкість перетворення спостерігається при 519 К, що ймовірно пов’язано з домінуванням процесу зародження нанокристалів в аморфній мат- риці. В температурному інтервалі 519—545 К швидкість кристаліза- ції Al зменшується та залишається стабільною в інтервалі 545—571 К. Одержаний результат свідчить про перехід до дифузійно-конт- а б Рис. 6. Залежність об’ємної частки фази на основі Al (а) та швидкості кри- сталізації (б) при неперервному нагріванні аморфного стопуAl87Ni8Y5. КІНЕТИКА РОСТУ НАНОКРИСТАЛІВ Al ПРИ КРИСТАЛІЗАЦІЇ СТОПУ Al87Ni8Y5 1235 рольованої стадії нанокристалізації, при якій домінуючим стає фак- тор росту нанокристалів. Підвищення температури до 598 К призво- дить до зменшення швидкости кристалізації, що пов’язано із вста- новленням метастабільної термодинамічної рівноваги між кристалі- чною та аморфною фазами. Максимуми на кривій, льокалізовані при температурах 619 та 693 К, відповідають евтектичним реакціям (2, 3). При T > 643 К швидкість кристалізації різко зменшується, що зумовлено переходом у термодинамічно рівноважний стан. 4. ВИСНОВКИ В процесі ізотермічного відпалу аморфного стопу Al87Ni8Y5 при 453 К виділяються первинні нанокристали Al, розмір яких змінюється від 6 до 14 нм. Аналіза кінетики кристалізації на основі формалізму Джонсона—Мела—Аврамі вказує на домінуючу роль фактора дифу- зійно-контрольованого росту нанокристалів. На основі оцінки кое- фіцієнта дифузії показано, що ріст нанокристалів Al контролюєть- ся дифузією атомів Y від міжфазної межі. Прямими структурними дослідженнями підтверджено факт формування областей різного хемічного складу, що зумовлено неоднорідним розподілом леґува- льних компонентів при кристалізації. За допомогою метод аналізи часових залежностей інтенсивности дифракційного максимуму (111)Al досліджено кінетику фазових пе- ретворень при неперервному лінійному нагріванні аморфного стопу Al87Ni8Y5. Встановлено факт наявности двох перетворень евтектич- ного типу при 598 та 600 К, пов’язаних з формуванням евтектичних сумішей Al з інтерметалічними сполуками Al3Ni та Al23Ni6Y4. ЦИТОВАНА ЛІТЕРАТУРА 1. Y. He, J. F. Poon, and G.Y. Shiflet, Science, 241: 1640 (1998). 2. A. Inoue, T. Ochiai, Y. Horio, and T. Masumoto, Mater. Sci. Eng. A, 179—180: 649 (1994). 3. Y. H. Kim, A. Inoue, and T. Masumoto, Mater. Sci. Transactions JIM, 32: 331 (1991). 4. У. Кестер, У. Герольд, Кристаллизация металлических стекол. В кн.: Металлические стекла (Ред. Г.-Й. Гюнтеродт, Г. Бек) (Москва: Мир: 1983), т. 1. 5. Дж. Кристиан, Теория превращений в металлах и сплавах (Москва: Мир: 1978), т. 1. 6. В. К. Носенко, Формування аморфних та наноструктурних станів в спла- вах на основі Fe та Al (Автореф. дис. … докт. фіз.-мат. наук) (Київ: ІМФ НАНУ: 2005). 7. S. Mudry, L. Bednarska, Y. Kulyk, B. Kotur, M. Kovbuz, and O. Hertsyk, Ar- chives of Materials Science, 25, No. 4: 373 (2004). 8. Phase Equilibrium Diagram of Ternary Al—Ni—Y System. 1236 С. І. МУДРИЙ, Ю. О. КУЛИК 9. R. E. Gladyshevskii and E. Parthẻ, Acta Cryst., C48: 232 (1992). 10. R. E. Gladyshevskii, K. Cenzual, H. D. Flack, and E. Parthẻ, Acta Cryst., B49: 468 (1993). 11. R. Raggio, G. Borzone, and R. Ferro, Intermetallics, 8: 247 (2000). 12. А. Г. Ильинский, В. В. Маслов, В. К. Носенко, А. П. Бровко, И. К. Евлаш, Металлофиз. новейшие технол., 22, № 3: 45 (2000).

Дослідження кінетики росту нанокристалів Al при кристалізації аморфного стопу Al₈₇Ni₈Y₅

Репозитарії

Схожі ресурси