Козодаев, М., Макеев, О., Бабаев, В., Суворов, А., Хохряков, В., Осадчук, Л., . . . Залужный, А. (2000). СТМ-анализы поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Козодаев, М.А, О.Н Макеев, В.П Бабаев, А.Л Суворов, В.Ф Хохряков, Л.А Осадчук, Б.Г Леваков, та А.Г Залужный. СТМ-анализы поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2000.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Козодаев, М.А, et al. СТМ-анализы поверхностной структуры графита, подвергнутого импульсному облучению осколками деления. Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України, 2000.