Распределение химического состава по глубине в пленках Cr-O-N, полученных методом ионно-стимулированного осаждения

В работе представлены результаты исследования распределения элементного и химического состава по глубине в наноразмерных пленках Cr-O-N, полученных методом ионностимулированного осаждения. Методами оже-электронной и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии показано, что осаждение хрома из паровой...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2009
Main Author: Стервоедов, А.Н.
Format: Article
Language:Russian
Published: Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України 2009
Online Access:http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7980
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Распределение химического состава по глубине в пленках Cr-O-N, полученных методом ионно-стимулированного осаждения / А.Н. Стервоедов // Физическая инженерия поверхности. — 2009. — Т. 7, № 3. — С. 210-215. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine