Распределение химического состава по глубине в пленках Cr-O-N, полученных методом ионно-стимулированного осаждения
В работе представлены результаты исследования распределения элементного и химического состава по глубине в наноразмерных пленках Cr-O-N, полученных методом ионностимулированного осаждения. Методами оже-электронной и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии показано, что осаждение хрома из паровой...
Saved in:
Date: | 2009 |
---|---|
Main Author: | |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2009
|
Online Access: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7980 |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Cite this: | Распределение химического состава по глубине в пленках Cr-O-N, полученных методом ионно-стимулированного осаждения / А.Н. Стервоедов // Физическая инженерия поверхности. — 2009. — Т. 7, № 3. — С. 210-215. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |