Система контроля топологии печатных плат - Байрак, С.А.; Дудкин, А.А.; Инютин, А.В.; Калабухов, Е.В.; Садыхов, Р.Х.; Поденок, Л.П. (Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2009)
Разработана система контроля топологии печатных плат, которая позволяет находить и классифицировать дефекты элементов топологии. Для поиска дефектов используются методы контроля, основанные на сравнении с эталоном и использовании операторов математической морфологии. Входные данные – это эталонное изображение печатной платы: векторное в формате Gerber или растровое в виде графического файла, изображение тестируемой печатной платы, а также параметры конструкторско-технологических ограничений.