Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени - Кутаев, Ю.Ф.; Тимченко, Л.И.; Кокряцкая, Н.И.; Губернаторов, В.А.; Поплавский, А.А. (Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України, 2009)
В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений.