Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images
A new method of experimental determination of the amplitude contrast value of electron-microscopic images for amorphous materials is suggested. The mathematical relations for calculating the contributions of different mechanisms of electron scattering by the object under study to the contrast on the...
Gespeichert in:
Datum: | 2015 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
2015
|
Schriftenreihe: | Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології |
Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/87980 |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Zitieren: | Different Electron-Scattering Mechanisms’ Contribution to the Formation of the Amplitude Contrast of Electron-Microscopic Images / M.Yu. Bobyk, V.P. Ivanitsky, M.M. Ryaboshchuk, O.Ya. Svatyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2015. — Т. 13, № 1. — С. 85–97. — Бібліогр.: 13 назв. — англ. |