Микроволновой метод определения толщин диэлектрических материалов с использованием излучателя со сканированием диаграммой направленности - Евич, Н.Л.; Прокопенко, Ю.В. (Радиофизика и радиоастрономия, 2010)
Рассматриваются возможности микроволновой метрологии миллиметрового диапазона электромагнитных волн для определения толщин плоских слоев из диэлектрических немагнитных материалов, лежащих на металлической подложке или находящихся в свободном пространстве. В качестве излучателя используется двухплечевой короткозамкнутый отрезок диэлектрического волновода и электродинамически связанная с ним диэлектрическая пластина. Приводятся оценки погрешностей определения толщины и диэлектрической проницаемости исследуемого слоя