Рентгеновское исследование кристаллической структуры тонких пленок дибензотетрааза[14]аннулена - Удовицкий, В.Г. (Физическая инженерия поверхности, 2003)
Приводятся результаты рентгеновских исследований кристаллической структуры тонких пленок органического полупроводника – дибензотетрааза[14]аннулена, cконденсированных на неподогретые аморфные подложки. Установлено, что совершенная текстура, наблюдаемая в пленках, сохраняется при их длительном хранении, а также после многократных термообработок. Высказано предположение о возможности двухфазного состава пленок (одновременном существовании в них двух полиморфных модификаций), которое хорошо согласуется с наблюдаемыми особенностями дифрактограмм, а также экспериментальными результатами, опубликованными другими авторами.