Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали
С помощью электрохимических исследований показано, что на межфазных границах 10Х20Н9Г6/H₂SO₄ – 1 М, легированных x% масс. Y, при различных температурах существует полупроводниковый слой n-типа, обеспечивающий повышение коррозионной стойкости. Анализ импедансных данных в рамках теории Мотта-Шотт...
Gespeichert in:
Datum: | 2007 |
---|---|
Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | Russian |
Veröffentlicht: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2007
|
Schriftenreihe: | Физическая инженерия поверхности |
Online Zugang: | http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/98836 |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Zitieren: | Образование полупроводниковой наноструктуры на поверхности аустенитной стали / С.В. Нестеренко, В.В. Джелали // Физическая инженерия поверхности. — 2007. — Т. 5, № 3-4. — С. 228–237. — Бібліогр.: 23 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineZusammenfassung: | С помощью электрохимических исследований показано, что на межфазных границах
10Х20Н9Г6/H₂SO₄ – 1 М, легированных x% масс. Y, при различных температурах существует
полупроводниковый слой n-типа, обеспечивающий повышение коррозионной стойкости. Анализ импедансных данных в рамках теории Мотта-Шоттки указывает, что для данной системы
полупроводниковая пленка вырождена, концентрация легирующей примеси ND превышает
1⋅10²⁷ м⁻³ и поэтому распределение носителей заряда подчиняется статистике Ферми-Дирака.
Микроструктурные исследования, определение микрохимической неоднородности, состава и
распределения НВ в наплавленном металле выполняли с помощью электронных микроскопов
“Comebаx” фирмы “Comeсa” и “Comscan-4” с приставкой для микрорентгеноспектрального
анализа “Link System 860”. Определение состава пассивных пленок проводили с помощью
метода электронной ОЖЕ-спектроскопии на спектрометре JAMP-10S фирмы JEOL.
Установлено, что сварные швы, микролегированные РЗМ, обладают в 3 – 4 раза большей коррозионной стойкостью по сравнению со сварными швами, полученными с помощью серийных
электродов. |
---|