Тонкопленочные детекторные CdTe-структуры с барьером Шоттки - Мирсагатов, Ш.А.; Ачилов, А.С.; Заверюхин, Б.Н. (Физическая инженерия поверхности, 2013)
Для детекторов короткопробежных частиц созданы пленочные CdTe-детекторные структуры с барьером Шоттки. Структуры изготовлены на основе крупноблочных p-CdTе пленок с удельным сопротивлением ρ ∼ 10⁷ Ом⋅cм. Кристаллиты пленок расположены ортогонально к плоскости Мо-подложки, на которой они сформированы. Исследованы вольт-фарадные, вольтамперные и шумовые характеристики структур. Структуры регистрировали α-частицы с энергией 5.482 MэВ от источника Am²⁴¹. Энергетическое разрешение R-структур составляет величину 22 ÷ 29 кэВ при напряжениях смещения V = 5 − 8 В и T = 293 K. При повышении величины V происходит инжекция неосновных носителей в базу структур. Установлено, что источником инжекции электронов в базу является Мо-контакт и соединение MoO₃ вблизи него.