ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | rus |
| Veröffentlicht: |
Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University
2008
|
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences |
Institution
Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences| Zusammenfassung: | Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. |
|---|