ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК

ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК

Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2008
Hauptverfasser: Положаенко, Сергей Анатольевич, Верлань, Андрей Анатольевич, Осман, Исам Хамид
Format: Artikel
Sprache:rus
Veröffentlicht: Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University 2008
Schlagworte:
діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
Online Zugang:http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences

Institution

Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences
id mcmtechkpnueduua-article-23983
record_format ojs
spelling mcmtechkpnueduua-article-239832019-03-05T15:23:11Z ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК Положаенко, Сергей Анатольевич Верлань, Андрей Анатольевич Осман, Исам Хамид діагностика локалізація несправних підсхем принцип декомпозиції. Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв. Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University 2008-06-05 Article Article application/pdf http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983 10.32626/2308-5916.2008-1.140-144 Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences; 2008: Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences. Issue 1; 140-144 Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки ; 2008: Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки. Випуск 1; 140-144 2308-5916 10.32626/2308-5916.2008-1 rus http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983/21515 Авторське право (c) 2021 Математичне та комп'ютерне моделювання. Серія: Технічні науки
institution Mathematical and computer modelling. Series: Technical sciences
baseUrl_str
datestamp_date 2019-03-05T15:23:11Z
collection OJS
language rus
topic діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
spellingShingle діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
Положаенко, Сергей Анатольевич
Верлань, Андрей Анатольевич
Осман, Исам Хамид
ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
topic_facet діагностика
локалізація несправних підсхем
принцип декомпозиції.
format Article
author Положаенко, Сергей Анатольевич
Верлань, Андрей Анатольевич
Осман, Исам Хамид
author_facet Положаенко, Сергей Анатольевич
Верлань, Андрей Анатольевич
Осман, Исам Хамид
author_sort Положаенко, Сергей Анатольевич
title ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_short ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_full ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_fullStr ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_full_unstemmed ЛОКАЛІЗАЦІЯ НЕСПРАВНИХ ЕЛЕКТРОННИХ ПІДСХЕМ МЕТОДОМ НАВЧАЛЬНИХ І ПЕРЕВІРОЧНИХ ХАРАКТЕРИСТИК
title_sort локалізація несправних електронних підсхем методом навчальних і перевірочних характеристик
description Запропоновано метод локалізації несправних підсхем електронних пристроїв, який ґрунтується на принципі декомпозиції. Показано, що шляхом перевірки певним чином сформованих гіпотез відносно стану складових частин електронних пристроїв (суть аналізу їх характеристик), можна виділити несправну підсхему. Доведено ефективність методів локалізації при діагностиці електронних пристроїв.
publisher Kamianets-Podilskyi National Ivan Ohiienko University
publishDate 2008
url http://mcm-tech.kpnu.edu.ua/article/view/23983
work_keys_str_mv AT položaenkosergejanatolʹevič lokalízacíânespravnihelektronnihpídshemmetodomnavčalʹnihíperevíročnihharakteristik
AT verlanʹandrejanatolʹevič lokalízacíânespravnihelektronnihpídshemmetodomnavčalʹnihíperevíročnihharakteristik
AT osmanisamhamid lokalízacíânespravnihelektronnihpídshemmetodomnavčalʹnihíperevíročnihharakteristik
first_indexed 2025-07-17T10:10:49Z
last_indexed 2025-07-17T10:10:49Z
_version_ 1837888490451238912

Ähnliche Einträge