Особенности температурного поведения ЭПР спектров селенида ртути, легированного железом
Исследованы образцы разбавленных магнитных полупроводников HgSe:Fe c концентрациями 2·10¹⁸ см⁻³ < NFe <3·10¹⁹ см ⁻³ в интервале температур 77 К < T < 300 К методом ЭПР. С помощью микроструктурного анализа показано, что ионы железа однородно распределены в объеме исследуемых образцов HgSe...
Saved in:
| Date: | 2014 |
|---|---|
| Main Authors: | , , , , , , , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Published: |
Фізико-технічний інститут низьких температур ім. Б.І. Вєркіна НАН України
2014
|
| Series: | Физика низких температур |
| Subjects: | |
| Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
| Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Cite this: | Особенности температурного поведения ЭПР спектров селенида ртути, легированного железом / К. Ламонова, Б. Бекиров, И. Иванченко, Н. Попенко, Е. Житлухина, В. Бурховецкий, С. Орел, Ю. Пашкевич // Физика низких температур. — 2014. — Т. 40, № 7. — С. 842-850. — Бібліогр.: 24 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Summary: | Исследованы образцы разбавленных магнитных полупроводников HgSe:Fe c концентрациями 2·10¹⁸ см⁻³ < NFe <3·10¹⁹ см ⁻³ в интервале температур 77 К < T < 300 К методом ЭПР. С помощью микроструктурного анализа показано, что ионы железа однородно распределены в объеме исследуемых образцов HgSe: Fe и не формируют вокруг себя области с кристаллической структурой, отличной от структуры цинковой обманки. На основании расчетов g-факторов показано: источником сигнала ЭПР являются ионы Fe³⁺, занимающие тетраэдрические позиции в образцах HgSe; форма спектров ЭПР является результатом совместного влияния искажений тетраэдрического окружения ян-теллеровского типа и смещений иона железа из центра тетраэдра; изменение формы спектра при увеличении концентрации объясняется в рамках модели формирования регулярной решетки заряженных доноров. По максимуму температурной зависимости ширины линии ЭПР для образцов с разными концентрациями железа определена температура образования регулярной решетки примесных ионов. |
|---|