APA (7th ed.) Citation

Pekar, G., Singaevsky, А., & Singaevsky, А. (2016). Аutomated method for determining the etch pits density on crystallographic planes of large semiconductor crystals. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Pekar, G.S, А.А Singaevsky, and А.F Singaevsky. Аutomated Method for Determining the Etch Pits Density on Crystallographic Planes of Large Semiconductor Crystals. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2016.

MLA (8th ed.) Citation

Pekar, G.S, et al. Аutomated Method for Determining the Etch Pits Density on Crystallographic Planes of Large Semiconductor Crystals. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2016.