APA (7th ed.) Citation

Gentsar, P., Vlasenko, A., & Kudryavtsev, A. (2005). Electron properties of semiconductor surface studied by the electroreflectance spectroscopy method. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України.

Chicago Style (17th ed.) Citation

Gentsar, P.A, A.I Vlasenko, and A.A Kudryavtsev. Electron Properties of Semiconductor Surface Studied by the Electroreflectance Spectroscopy Method. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2005.

MLA (8th ed.) Citation

Gentsar, P.A, et al. Electron Properties of Semiconductor Surface Studied by the Electroreflectance Spectroscopy Method. Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України, 2005.