Макро- и наноскопические капиллярные эффекты на наноструктурированных реальных поверхностях
Представлены результаты измерений капиллярных сил на различных алмазоподобных материалах и аллотропных модификациях углерода, полученные с помощью сканирующего силового микроскопа. Амплитудно-частотные характеристики нанорельефа исследуемых поверхностей варьировали в широком диапазоне плазмохимическ...
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , , , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Russian |
| Veröffentlicht: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2012
|
| Schriftenreihe: | Сверхтвердые материалы |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Макро- и наноскопические капиллярные эффекты на наноструктурированных реальных поверхностях / А.А. Ефремов, П.М. Литвин, А.Г. Гонтарь, С.П. Старик, В.М. Перевертайло, И.В. Прокопенко, А.М. Куцай, О.Б. Логинова // Сверхтвердые материалы. — 2012. — № 2. — С. 10-28. — Бібліогр.: 18 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Zusammenfassung: | Представлены результаты измерений капиллярных сил на различных алмазоподобных материалах и аллотропных модификациях углерода, полученные с помощью сканирующего силового микроскопа. Амплитудно-частотные характеристики нанорельефа исследуемых поверхностей варьировали в широком диапазоне плазмохимическими обработками. Измерения капиллярных сил сопоставлены с макроскопическими значениями угла смачивания. Показано, что макроскопический угол смачивания зависит только от усредненной поверхностной энергии и слабо зависит от характеристик нанорельефа, а нанокапиллярные силы коррелируют как с параметрами рельефа поверхности, так и с локальным углом смачивания. Подробно обсуждены критерии многоменискового режима измерения капиллярных сил в силовой спектроскопии поверхности и перспективы применения данной методики для энергетического картирования реальной поверхности. |
|---|