Цысарь, М. (2012). Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей ta-C-пленки. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України.
Chicago Style (17th ed.) CitationЦысарь, М.А. Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей Ta-C-пленки. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
MLA (8th ed.) CitationЦысарь, М.А. Использование сканирующего туннельного микроскопа с алмазным острием для исследования структурных особенностей Ta-C-пленки. Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України, 2012.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.