Легированные бором монокристаллы алмаза для зондов высоковакуумной туннельной микроскопии
Приведены результаты исследований структуры монокристаллов алмаза, выращенных методом температурного градиента, с целью получения образцов с наиболее однородными характеристиками для изготовления зондов для сканирующих зондовых микроскопов заданной аксиальной ориентации и с контролируемым распределе...
Збережено в:
| Дата: | 2013 |
|---|---|
| Автори: | , , , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
Інститут надтвердих матеріалів ім. В.М. Бакуля НАН України
2013
|
| Назва видання: | Сверхтвердые материалы |
| Теми: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Цитувати: | Легированные бором монокристаллы алмаза для зондов высоковакуумной туннельной микроскопии / А.П. Чепугов, А.Н. Чайка, В.И. Грушко, Е.И. Мицкевич, О.Г. Лысенко // Сверхтвердые материалы. — 2013. — № 3. — С. 29-37. — Бібліогр.: 13 назв. — рос. |
Репозитарії
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine| Резюме: | Приведены результаты исследований структуры монокристаллов алмаза, выращенных методом температурного градиента, с целью получения образцов с наиболее однородными характеристиками для изготовления зондов для сканирующих зондовых микроскопов заданной аксиальной ориентации и с контролируемым распределением легирующей примеси. Применение подобных зондов в сканирующей туннельной микроскопии уменьшает вероятность возникновения случайных каналов туннелирования с участием поверхностных состояний, связанных с наличием атомов бора в структуре алмаза, и повышает достоверность экспериментальных данных. Результаты исследования поверхности графита (0001) методами сканирующей туннельной микроскопии демонстрируют высокую стабильность монокристаллических алмазных зондов и возможность достижения с их помощью атомарного разрешения. |
|---|