Электронографическое исследование среднеквадратичных смещений атомов в свободных кластерах криптона - Еременко, В.В.; Коваленко, С.И.; Солнышкин, Д.Д. (Физика низких температур, 2003)
С помощью электронографической методики впервые определена размерная зависимость среднеквадратичной амплитуды атомов <u²>¹/² в свободных кластерах криптона. Средний размер кластеров N сформированных в сверхзвуковых струях криптона, изменялся от 1×10³ до 2×10⁴ атомов/кластер. Установлено, что при уменьшении размера кластеров <u²>¹/² увеличивается. Сопоставление наблюдавшейся зависимости с расчетной, учитывающей долевой вклад поверхностных атомов, показало, что для кластеров с N≥4×10³ атомов/кластер увеличение <u²>¹/² при уменьшении N обусловлено только ростом относительного числа поверхностных атомов. Корреляция между расчетом и экспериментом исчезает, когда N≤4×10³ атомов/ кластер. В этом случае экспериментальные значения заметно превышают расчетные, указывая тем самым на то, что в малых агрегациях помимо поверхности действуют также и другие факторы, способствующие росту <u²>¹/².