Дефектные моды в анизотропном проволочном метаматериале микроволнового диапазона

В настоящее время большое внимание уделяется изучению дефектных мод, возникающих вследствие нарушения периодичности в фотонных кристаллах. Этот интерес обусловлен тем, что в природе проявление нарушения периодичности встречается чаще, чем идеальная периодичность. Имеющиеся на сегодняшний день резуль...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Datum:2017
Hauptverfasser: Ивженко, Л.И., Юдина, Д.И., Тарапов, С.И.
Format: Artikel
Sprache:Russian
Veröffentlicht: Інститут радіофізики і електроніки ім. А.Я. Усикова НАН України 2017
Schriftenreihe:Радіофізика та електроніка
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Назва журналу:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Zitieren:Дефектные моды в анизотропном проволочном метаматериале микроволнового диапазона / Л.И. Ивженко, Д.И. Юдина, С.И. Тарапов // Радіофізика та електроніка. — 2017. — Т. 22, № 2. — С. 11-16. — Бібліогр.: 21 назв. — рос.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Beschreibung
Zusammenfassung:В настоящее время большое внимание уделяется изучению дефектных мод, возникающих вследствие нарушения периодичности в фотонных кристаллах. Этот интерес обусловлен тем, что в природе проявление нарушения периодичности встречается чаще, чем идеальная периодичность. Имеющиеся на сегодняшний день результаты теоретических исследований дефектных мод в искусственных средах (метаматериалах) не дают полного описания данного эффекта. Приведен анализ спектральных свойств анизотропного проволочного метаматериала с пространственным дефектом в микроволновом диапазоне длин волн. Экспериментально обнаружены дефектные моды в запрещенной зоне частотного спектра пропускания анизотропного проволочного метаматериала с дефектом. Выполнен анализ частотных зависимостей положений пиков пропускания, соответствующих возникновению дефектных мод, от толщины дефектного слоя, который показал хорошее совпадение результатов эксперимента с численным расчетом. Показано, что с увеличением толщины дефектного слоя пики дефектных мод смещаются в область низких частот. Результаты исследований могут найти применение при разработке различных телекоммуникационных устройств: фильтров, ответвителей, аттенюаторов, электромагнитных сенсоров, линз с субволновым разрешением, малогабаритных антенн, объектов, «невидимых» в определенном диапазоне частот и др.