Дослідження вихрострумових методів виявлення та оцінки змін структури під час шліфування виробів із теплостійкої сталі ВКС-5

Розглянуто проблему виявлення та оцінки шліфувальних припалювань сталевих виробів. Запропоновано спосіб виготовлення зразків зі шліфувальними припалюваннями різної глибини на основі варіації режимів шліфування. Проведено дослідження зразків із теплостійкої сталі ВКС-5 із припалюваннями загартовуванн...

Full description

Saved in:
Bibliographic Details
Date:2016
Main Authors: Учанін, В.М., Сидоренко, М.В.
Format: Article
Language:Ukrainian
Published: Інститут електрозварювання ім. Є.О. Патона НАН України 2016
Series:Техническая диагностика и неразрушающий контроль
Subjects:
Tags: Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
Journal Title:Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Cite this:Дослідження вихрострумових методів виявлення та оцінки змін структури під час шліфування виробів із теплостійкої сталі ВКС-5 / В.М. Учанін, М.В. Сидоренко // Техническая диагностика и неразрушающий контроль. — 2016. — № 4. — С. 21-26. — Бібліогр.: 24 назв. — укр.

Institution

Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine
Description
Summary:Розглянуто проблему виявлення та оцінки шліфувальних припалювань сталевих виробів. Запропоновано спосіб виготовлення зразків зі шліфувальними припалюваннями різної глибини на основі варіації режимів шліфування. Проведено дослідження зразків із теплостійкої сталі ВКС-5 із припалюваннями загартовування з товщиною від 2…3 до 100 мкм. Використано два вихрострумові методи, побудовані на застосуванні підвищених робочих частот (200 МГц) і визначенні змін імпедансу вихрострумового перетворювача в діапазоні робочих частот від 5,9 до 8 МГц (змінно-частотний метод). Показано кореляційні залежності показів приладів від товщини припалювання загартовування. Підтверджено високу чутливість вихрострумового методу до припалювань загартовування, особливо в випадку використання підвищених робочих частот. Сформульовано напрямки подальших досліджень.