APA-Zitierstil (7. Ausg.)

Shybiko, Y., Shaykevich, I., & Melnichenko, L. (2006). Angular dependences of ellipsometric parameters of thin Cr and Ti films under surface polariton excitation. НТК «Інститут монокристалів» НАН України.

Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)

Shybiko, Ya.A, I.A Shaykevich, und L.Yu Melnichenko. Angular Dependences of Ellipsometric Parameters of Thin Cr and Ti Films Under Surface Polariton Excitation. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2006.

MLA-Zitierstil (8. Ausg.)

Shybiko, Ya.A, et al. Angular Dependences of Ellipsometric Parameters of Thin Cr and Ti Films Under Surface Polariton Excitation. НТК «Інститут монокристалів» НАН України, 2006.