Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии
В работе численно исследуются приёмы построения изображений в СММ, обеспечивающие визуализацию профилей распределения физических параметров объекта в приповерхностной области. Показано, что изображение фундаментальных сигналов изменения резонансной частоты и добротности резонаторного сканирующего зо...
Saved in:
Date: | 2018 |
---|---|
Main Authors: | , , |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Published: |
Науковий фізико-технологічний центр МОН та НАН України
2018
|
Series: | Журнал физики и инженерии поверхности |
Tags: |
Add Tag
No Tags, Be the first to tag this record!
|
Journal Title: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
Cite this: | Принципы физической расшифровки изображений в сканирующей микроволновой микроскопии / Ю.Е. Гордиенко, А.В. Левченко, И.Н. Щербань // Журнал фізики та інженерії поверхні. — 2018. — Т. 3, № 1. — С. 19-25. — Бібліогр.: 15 назв. — рос. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineBe the first to leave a comment!