Влияние двухуровневых дефектов в открытой копланарной линии на передачу микроволнового сигнала - Муценик, Е.А.; Султанов, А.Н.; Новиков, И.Л.; Иванов, Б.И.; Вострецов, А.Г.; Ильичев, Е.В. (Физика низких температур, 2019)
Микроволновые сверхпроводниковые квантовые цепи подвержены сильному влиянию различных дефектов, которые неизбежны в процессе производства. В данной работе представлен новый метод измерения потерь в открытой линии передачи. Эта линия посредством емкостной связи взаимодействует с копланарным четвертьволновым резонатором, который используется для изучения потерь в ней. Исследованы зависимости потерь от мощности и температуры (в милликельвиновом диапазоне). Показано, что основная часть потерь в линии передачи обусловлена взаимодействием микроволнового поля с дефектами, которые эффективно описываются двухуровневыми системами.