Електронна структура 3R-полiтипiв диселенiдiв нiобiю та молiбдену
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is used to investigate the electronic structure of 3R−Nb1.14Se2 and 3R−MoSe2 compounds. For the mentioned compounds, the XPS valence-band and Nb(Mo)3d and Se3p core-level spectra are derived. For comparison, the similar spectra are obtained for the usual 2H pol...
Gespeichert in:
| Datum: | 2008 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , , , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | Ukrainian |
| Veröffentlicht: |
Видавничий дім "Академперіодика" НАН України
2008
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of Ukraine |
| Zitieren: | Електронна структура 3R-полiтипiв диселенiдiв нiобiю та молiбдену / О.К. Синельниченко, Ж. I. Тишковець, М.В. Карпець, О.Ю. Хижун // Доп. НАН України. — 2008. — № 7. — С. 86-93. — Бібліогр.: 14 назв. — укр. |
Institution
Digital Library of Periodicals of National Academy of Sciences of UkraineSchreiben Sie den ersten Kommentar!