Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. II. Численный эксперимент - Лизунов, В.В.; Кочелаб, Е.В.; Скакунова, Е.С.; Лень, Е.Г.; Молодкин, В.Б.; Олиховский, С.И.; Толмачёв, Н.Г.; Шелудченко, Б.В.; Лизунова, С.В.; Скапа, Л.Н. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015)
На основе построенной в первой части работы обобщённой модели дисперсионночувствительной дифрактометрии неидеальных кристаллов произвольной толщины проведён анализ дифференциальных и интегральных картин рассеяния для широкого интервала эффективных толщин кристалла.