Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмежен...
Gespeichert in:
| Datum: | 2012 |
|---|---|
| Hauptverfasser: | , |
| Format: | Artikel |
| Sprache: | rus |
| Veröffentlicht: |
Видавничий дім «Академперіодика»
2012
|
| Online Zugang: | http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473 |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
| Назва журналу: | Radio physics and radio astronomy |
Institution
Radio physics and radio astronomy| id |
oai:ri.kharkov.ua:article-473 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
oai:ri.kharkov.ua:article-4732012-11-13T16:49:32Z Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients Nazarchuk, Z. T. Synyavskyy, A. T. Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. A new method for determination of both layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plain electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The method is based on an approach to reconstruction of the frequency dependences of all scattering matrix elements in a limited waveband. The scattering matrix has been recovered by recalculation of the measured reflection coefficients for this structure in free space and on a perfectly-conducting screen. A high accuracy in both permittivity and thickness determination is achieved due to identification of spectral coefficients which are distinguished from scattering matrix elements and expressed as a finite series of undamped complex exponents. Видавничий дім «Академперіодика» 2012-11-13 Article Article application/pdf http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473 РАДИОФИЗИКА И РАДИОАСТРОНОМИЯ; Vol 15, No 3 (2010); 295 RADIO PHYSICS AND RADIO ASTRONOMY; Vol 15, No 3 (2010); 295 РАДІОФІЗИКА І РАДІОАСТРОНОМІЯ; Vol 15, No 3 (2010); 295 2415-7007 1027-9636 rus http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473/38 |
| institution |
Radio physics and radio astronomy |
| baseUrl_str |
|
| datestamp_date |
2012-11-13T16:49:32Z |
| collection |
OJS |
| language |
rus |
| format |
Article |
| author |
Nazarchuk, Z. T. Synyavskyy, A. T. |
| spellingShingle |
Nazarchuk, Z. T. Synyavskyy, A. T. Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| author_facet |
Nazarchuk, Z. T. Synyavskyy, A. T. |
| author_sort |
Nazarchuk, Z. T. |
| title |
Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| title_short |
Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| title_full |
Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| title_fullStr |
Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| title_full_unstemmed |
Determination of Multilayer Structure Parameters by Means of Reconstruction of Scattering Matrix from Known Reflection Coefficients |
| title_sort |
determination of multilayer structure parameters by means of reconstruction of scattering matrix from known reflection coefficients |
| title_alt |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання |
| description |
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. |
| publisher |
Видавничий дім «Академперіодика» |
| publishDate |
2012 |
| url |
http://rpra-journal.org.ua/index.php/ra/article/view/473 |
| work_keys_str_mv |
AT nazarchukzt viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstrujovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT synyavskyyat viznačennâharakteristikšaruvatoístrukturizarekonstrujovanoûzkoefícíêntívvídbittâmatriceûrozsíûvannâ AT nazarchukzt determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients AT synyavskyyat determinationofmultilayerstructureparametersbymeansofreconstructionofscatteringmatrixfromknownreflectioncoefficients |
| first_indexed |
2025-07-17T11:33:01Z |
| last_indexed |
2025-07-17T11:33:01Z |
| _version_ |
1837893662602690560 |