Stervoedov, A. N., Beresnev, V. M., & Sergeeva, N. V. (2010). Features of X-ray photoelectron spectroscopy for determining the thickness of ultrathin films.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Stervoedov, A. N., V. M. Beresnev, und N. V. Sergeeva. Features of X-ray Photoelectron Spectroscopy for Determining the Thickness of Ultrathin Films. 2010.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Stervoedov, A. N., et al. Features of X-ray Photoelectron Spectroscopy for Determining the Thickness of Ultrathin Films. 2010.
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