Vashchenko, V. A., Yatsenko, I. V., Kovalenko, Y. I., Kladko, V. P., Gudymenko, Y., Lytvyn, P. M., . . . Dorozinsky, G. V. (2019). Effect of electron-beam treatment of sensor glass substrates for SPR devices on their metrological characteristics.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Vashchenko, V. A., et al. Effect of Electron-beam Treatment of Sensor Glass Substrates for SPR Devices on Their Metrological Characteristics. 2019.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Vashchenko, V. A., et al. Effect of Electron-beam Treatment of Sensor Glass Substrates for SPR Devices on Their Metrological Characteristics. 2019.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.