Filatov, J. D., Sidorko, V. I., Kovalev, S. V., Filatov, J., & Montej, G. (2017). In-process monitoring of shape accuracy of flat surfaces of optical and microelectronic components in polishing.
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Filatov, Ju. D., V. I. Sidorko, S. V. Kovalev, Ju Filatov, та G. Montej. In-process Monitoring of Shape Accuracy of Flat Surfaces of Optical and Microelectronic Components in Polishing. 2017.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Filatov, Ju. D., et al. In-process Monitoring of Shape Accuracy of Flat Surfaces of Optical and Microelectronic Components in Polishing. 2017.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.