Liashuha, Y. (2016). Information technology and patent-licensing of the National Scientific Center "Institute of Metrology".
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Liashuha, Yu. Information Technology and Patent-licensing of the National Scientific Center "Institute of Metrology". 2016.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Liashuha, Yu. Information Technology and Patent-licensing of the National Scientific Center "Institute of Metrology". 2016.
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