Liashuha, Y. (2016). Information technology and patent-licensing of the National Scientific Center "Institute of Metrology".
Чикаго стиль цитування (17-те видання)Liashuha, Yu. Information Technology and Patent-licensing of the National Scientific Center "Institute of Metrology". 2016.
Стиль цитування MLA (8-ме видання)Liashuha, Yu. Information Technology and Patent-licensing of the National Scientific Center "Institute of Metrology". 2016.
Попередження: стилі цитування не завжди правильні на всі 100%.