Стиль цитування APA (7-ме видання)

Rozouvan, T. S., Poperenko, L. V., & Shaykevich, I. A. (2015). Influence of the surface roughness and oxide surface layer onto Si optical constants measured by the ellipsometry technique.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Rozouvan, T. S., L. V. Poperenko, та I. A. Shaykevich. Influence of the Surface Roughness and Oxide Surface Layer onto Si Optical Constants Measured by the Ellipsometry Technique. 2015.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Rozouvan, T. S., et al. Influence of the Surface Roughness and Oxide Surface Layer onto Si Optical Constants Measured by the Ellipsometry Technique. 2015.