Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films

Characterization of grain boundaries in CdTe polycrystalline films

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2015
Hauptverfasser:	V. V. Tetyorkin, A. V. Sukach, V. A. Boiko, A. I. Tkachuk
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2015
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000714335
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