Yefremov, O. O., Lytovchenko, V. H., Melnyk, V. P., Oberemok, O. S., Popov, V. H., & Romaniuk, B. M. (2015). Dopant depth profile modification during mass Spectrometric analysis of multilayer nanostructures.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Yefremov, O. O., V. H. Lytovchenko, V. P. Melnyk, O. S. Oberemok, V. H. Popov, und B. M. Romaniuk. Dopant Depth Profile Modification During Mass Spectrometric Analysis of Multilayer Nanostructures. 2015.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Yefremov, O. O., et al. Dopant Depth Profile Modification During Mass Spectrometric Analysis of Multilayer Nanostructures. 2015.
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