Al-Adamat, K. M., & El-Nasser, H. M. (2021). Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Al-Adamat, K. M., und H. M. El-Nasser. Characterization of Cobalt Phthalocyanine Thin Film on Silicon Substrate Using Spectroscopic Ellipsometry. 2021.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Al-Adamat, K. M., und H. M. El-Nasser. Characterization of Cobalt Phthalocyanine Thin Film on Silicon Substrate Using Spectroscopic Ellipsometry. 2021.
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