Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry

Characterization of Cobalt phthalocyanine thin film on silicon substrate using spectroscopic ellipsometry

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2021
Hauptverfasser:	K. M. Al-Adamat, H. M. El-Nasser
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2021
Schriftenreihe:	Ukrainian Journal of Physics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0001276626
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