Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions

Magnetic force microscopy of YLaFeO films implanted by high dose of nitrogen ions

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Bibliographische Detailangaben
Datum:	2013
Hauptverfasser:	I. M. Fodchuk, I. I. Gutsuliak, R. A. Zaplitniy, S. V. Balovsyak, I. P. Yaremiy, Yu. Bonchyk, G. V. Savitskiy, I. M. Syvorotka, P. M. Lytvyn
Format:	Artikel
Sprache:	English
Veröffentlicht:	2013
Schriftenreihe:	Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics
Online Zugang:	http://jnas.nbuv.gov.ua/article/UJRN-0000352308
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