Bihun, R. I., Buchkovska, M. D., Koltun, N. S., Stasiuk, Z. V., & Leonov, D. S. (2013). Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Bihun, R. I., M. D. Buchkovska, N. S. Koltun, Z. V. Stasiuk, und D. S. Leonov. Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper. 2013.
MLA-Zitierstil (8. Ausg.)Bihun, R. I., et al. Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper. 2013.
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