Стиль цитування APA (7-ме видання)

Bihun, R. I., Buchkovska, M. D., Koltun, N. S., Stasiuk, Z. V., & Leonov, D. S. (2013). Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper.

Чикаго стиль цитування (17-те видання)

Bihun, R. I., M. D. Buchkovska, N. S. Koltun, Z. V. Stasiuk, та D. S. Leonov. Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper. 2013.

Стиль цитування MLA (8-ме видання)

Bihun, R. I., et al. Influence of Sublayers of Germanium on a Threshold of Percolation of a Current in Thin Films of Copper. 2013.